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Influence of Fr'ohlich polaron coupling on renormalized electron bands in polar semiconductors. Results for zincblende GaN

机译:Fr'“ohlich极化子耦合对重整化电子带的影响   在极地半导体中。闪锌矿GaN的结果

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摘要

\ni We develop a simple method to study the zero-point and thermallyrenormalized electron energy $\varepsilon_{\mathbf{k}n}(T)$ for $\mathbf{k}n$the conduction band minimum or valence maximum in polar semiconductors. We usethe adiabatic approximation, including an imaginary broadening parameter$i\delta$ to supress noise in the density-functional integrations. Fr\"{o}hlichpolaron methods provide analytic expressions for the contribution of theproblematic optical phonon mode. We use this to correct the renormalizationobtained from the adiabatic approximation. Test calculations are done forzincblende GaN for an 18x18x18 integration grid. The Fr\"ohlich correction isof order -0.02 eV for the zero-point energy shift of the conduction bandminimum, and +0.03 eV for the valence band maximum; the correction torenormalization of the 3.28 eV gap is -0.05 eV, a significant fraction of thetotal zero point renormalization of -0.15 eV.
机译:\ ni我们开发了一种简单的方法来研究零点和热重归一化的电子能量$ \ varepsilon _ {\ mathbf {k} n}(T)$对于$ \ mathbf {k} n $的极性的导带最小值或价数最大值半导体。我们使用绝热近似,包括一个虚构的加宽参数$ i \ delta $来抑制密度泛函积分中的噪声。 Fr \“ {o} hlichpolaron方法提供了问题光子声子模式贡献的解析表达式。我们用它来校正从绝热近似获得的重归一化。对18x18x18集成网格的zincblende GaN进行了测试计算。Fr\” OHlich校正对于导带最小值的零点能量漂移,约为-0.02 eV,对于价带最大值,其约为+0.03 eV。 3.28 eV间隙的重新归一化校正为-0.05 eV,是零点重新归一化的总总值-0.15 eV的很大一部分。

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